RoHS检测仪的技术参数

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◇ 分析时间：两分钟左右◇ 分析误差：符合GB223.3～5～1988等

◇ 分析方法：采用机外溶样，光电比色法。

◇ 标样曲线：记忆贮存90条曲线（可根据用户需要任意增加），采用回归方法，建立曲线方程。

◇ 输入输出方式：品牌电脑控制、数据导出的格式可根据实验室要求任意设置，打印机输出。

如改变测试条件，该范围可相应扩大。

RoHS分析仪的特点

1.无损检测，可对电子电气设备中的铅、镉、铬、氯等元素进行定量分析。

2.测量时间短，不需要辅助材料。

3.全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计，更好地保障操作员的人身安全。

4.水冷光管配合光管保养程序，散热更好，有效延长光管寿命。

5.准确的样品成像准直系统，实现对样品的准确点测。

技术指标：

1．外型尺寸：710×540×435（mm）

2．样品仓尺寸：400×340×150 ( mm )

3．重量：59kg

4．工作环境温度：5—30℃

5．工作环境相对湿度：≤80%

6．元素分析范围：从硫(S)到铀(U)（可以检测卤元素Cl和Br）

7．较低检出限：Cd/Cr/Hg/Br/Pb≤2ppm ，  CL≤50ppm

8．测量时间：200—500（S）

9．分辨率：149eV FWHM @ 5.9keV

10．电源：AC100—240（V）

11．电源频率：47—63（Hz）

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RoHS分析仪原理

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RoHS检测的学名是X荧光光谱仪(XRF)。X荧光光谱仪(XRF)由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品，产生X荧光(二次X射线)，探测器对X荧光进行检测。

受激发的样品中的每一种元素会放she出二次X射线，并且不同的元素所放she出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放she出来的二次X射线的能量及数量。然后，rohs检测分析仪，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。

元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下:

λ=K(Z? s) ?2

式中K和S是常数。

而根据理论，X射线可以看成由一种或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为:

E=hν=h C/λ

式中，E为X射线光子的能量，单位为keV;h为普朗克常数;ν为光波的频率;C为光速。

因此，只要测出荧光X射线的波长或者能量，就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外，rohs检测分析仪厂家，荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。

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