金属无损分析仪

北京京国艺科技发展有限公司专业生产、销售贵金属分析仪，我们为您分析该产品的以下信息。

影响贵金属无损分析仪测量结果的因素有如下几点。由于首饰产品的特殊情况，受方法原理的限制，在使用本方法时检测人员应了解和熟悉以下影响结果的因素（这些影响因素在不同情况下将对特征谱线强度的采集产生很大的影响，甚至造成误判）：a)被测样品与标准物质所含元素组成和含量有较大的差异；b)被测样品的表面有镀层或经化学处理；c)测量时间；d)样品的形状；e)样品测量的面积；他同样能给出金、银、铂、钯等贵金属及其杂质的具体含量，只是由于分辨率的原因，在黄金含铱、黄金含钨、铂金含铱等方面比半导体探测器差一些，作为一般金银首饰检测还是足够的。f)贵金属的含量多少；g)被测样品的均匀程度（包括偏析和焊药等）。

贵金属检测技术

贵金属检测技术和经验，是京国艺经由20余年的沉淀所得。自主研发生产的GY-MARS/T6600型X射线荧光光谱检测仪，是一款的台式贵金属检测仪，它配备了美国进口SDD探测器，采用航空设计拥有十多项研发专利，可对金银首饰进行准确检测。

光谱仪的保护措施

1. 结构保护：仪器进行了铅屏蔽处理，结构采用迷宫设计，有效防止X荧光的外泄。根据环保局检测结果，仪器在工作状态下，周边辐射剂量率几乎与天然本底一致，已取得环保局豁免。

2. 警示保护：仪器使用了警示装置，仪器内部产生X荧光时，高压指示灯亮，提醒操作人员不要开启测量仓。

3. 距离保护：通过软件远程控制高压开启，仪器工作状态下，不必近距离接触仪器。保证了操作员和仪器的空间距离。

4. 误操作保护：仪器内部产生X荧光时，如果操作人员误操作打开测量仓，仪器会自动断电，停止产生X荧光。

通过以上四个保护措施，可以有效保障操作人员的操作安全。

以上内容由北京京国艺科技发展有限公司为您提供，希望对同行业的朋友有所帮助！